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| 品牌 | DAKOTA/美国 | 价格区间 | 2万-5万 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 化工,石油,地矿,道路/轨道/船舶,航空航天 |
一、多功能超声波测厚仪CMXDL+的仪器特点：
-100MHz FPGA时序电路设计
-可选彩色和灰度显示屏
-A/B扫描
-手动调节增益和自动增益控制 (AGC)，范围：110dB
-自动时间相关增益(TDG)
-多种测量模式
二、配置功能：
脉冲-回波(P-E)模式：测量材料厚度
脉冲-回波涂层(PECT)模式：同时测量材料和涂层厚度
脉冲-回波温度补偿(PETP)模式：测量材料厚度
回波-回波(E-E)模式：穿过涂层测量材料厚度
回波-回波验证(E-EV)模式： 穿过涂层测量材料厚度
测量涂层(CT)模式：只测量涂层厚度
-可接双晶探头和单晶探头(包括延迟块探头、接触式探头、笔形探头)
-USB Type-C数据接口
-内置4GB SD存储卡
三、多功能超声波测厚仪CMXDL+的技术参数：
| 测量 | 测量范围 | 脉冲-回波(P-E)模式测量范围：0.63mm～30.48m(钢) 脉冲-回波涂层(PECT)模式测量范围：0.63mm～30.48m(钢)，0.0254~2.54mm(涂层) 脉冲-回波温度补偿(PETP)模式 测量范围：0.63mm～30.48m(钢) 回波-回波(E-E)模式测量范围：2.54～152.4mm(钢，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化) 回波-回波验证(E-EV)模式测量范围：2.54～102mm(钢，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化) 测量涂层(CT)模式测量范围：0.0127~2.54mm(涂层) |
| 单位 | 英制和公制 | |
| 分辨率 | 0.01mm | |
| 校准 | 一点和两点校准方式 | |
| 声速范围 | 309.88～18542m/s | |
| 显示 | 显示屏 | 1/8英寸VGA灰色显示，240x160象素。可视区62x45.7mm，EL背光；可选1/4英寸彩色显示屏，320x240象素 |
| 大数字方式 | 标准厚度显示，数字高度17.78mm/14.35mm(彩色显示屏) | |
| A-扫描方式 | 检波+/-(缺陷视场)，RF(全波视场)。刷新频率25Hz/60Hz(彩色显示屏)。纵向和横向视图(彩色显示屏) | |
| B-扫描方式 | 基于时间的横截面视图。 显示速度为每秒10到200个读数 | |
| 厚度条形扫描 | 速度10Hz，在B-扫描和大数字显示中可见 | |
| 功能状态指示 | 显示当前激活的功能 | |
| 稳定度指示 | 表示测量值的稳定性 | |
| 超声波参数 | 测量模式 | P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT |
| 脉冲 | 可调方波脉冲发生器 | |
| 接收 | 根据选择模式在110dB范围内采用手动或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可调 | |
| 计时 | 单次100MHz8位超低功耗数字化仪的精确TCXO计时 脉冲重复频率：250Hz |
| 探头 | 频率范围：1~20MHz | |
| 双晶探头和单晶探头(延迟块、接触式、笔式) | ||
| LEMO接口，1.2米探头线 | ||
| 可定制用于特殊应用的探头 | ||
| 存储 | 容量 | 内置4GB SD卡 |
| 数据结构 | 网格(字母数字)和顺序(自动识别) | |
| 截屏功能 | 位图图形捕获，用于快速记录 | |
| 数据输出 | 通过USB Type-C连接的计算机 | |
| 功能 | 设置 | 64个用户定义设置，用户也可编辑出厂设置 |
| 探头类型可选 | 内置双路误差校正，提高线性度 | |
| 闸门 | 两个独立闸门 | |
| 报警模式 | 上下限视听报警 | |
| 快速扫描模式 | 每秒250个读数，当探头离开时显示最小值 | |
| 键盘 | 12个触摸键 | |
| 其他 | 电源 | 标配为三节5号碱性电池 ，可选镍镉电池或锂电池。电量状态指示。无操作五分钟后自动关机。USB Type-C供电。 |
| 重量 | 312g(含电池) | |
| 尺寸 | 131.3x63.5x31.5mm | |
| 操作温度 | -30~75℃ | |
| 外壳 | 挤压铝机壳，底盖用镀镍铝板加密封垫封装 | |
| 包装 | ABS工程塑料箱 | |
四、双晶探头介绍：
| 双晶探头型号 | 频率 | 探头晶片直径 | 探头防磨面直径 | 测量范围 | 说明 |
| PT-102-2900 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0～152mm | 标准CT探头(可测涂层厚度) |
| PT-101-2900 | 5.0MHz | 4.76mm | 6.35mm | 1.0～50mm | 小管径CT探头 |
| PT-102-3300 | 7.5MHz | 6.35mm | 9.53mm | 0.63～152mm | 超薄探头 |
| PT-104-2900 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27～508mm | 超厚CT探头 |
| PT-042-2000 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0～152mm | 标准高温探头，最高340℃ |
| PT-044-2000 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27～508mm | 超厚高温探头，最高340℃ |
| PT-212-2001 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0～152mm | 超厚超高温探头，最高480℃ |
| PT-214-2001 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27～508mm | 超高温探头，最高480℃ |
注：测试高温表面时需用高温耦合剂
五、单晶探头介绍：
| 探头型号 | 频率 | 描述 | 说明 |
| PT-402-5507 | 15MHz | 晶片Ø6.35mm | 标准延迟块探头 |
| PT-402-6507 | 20MHz | 晶片Ø6.35mm | 延迟块探头 |
| PT-4903-2875 | 5MHz | 晶片Ø3.18mm，防磨面Ø6.35mm | 接触式探头 |
| PT-4903-4875 | 10MHz | 晶片Ø3.18mm，防磨面Ø6.35mm | 接触式探头 |
| PT-4023-2855 | 5MHz | 晶片Ø6.35mm，防磨面Ø9.53mm | 接触式探头 |
| PT-4023-4855 | 10MHz | 晶片Ø6.35mm，防磨面Ø9.53mm | 接触式探头 |
| PT-481-4507 | 10MHz | 延迟块前端Ø1.59mm | 笔式探头 |