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型号:
产品时间:2025-08-26
简要描述:
德国EPK(Elektrophysik)公司
德国EPK MiniTest1100涂镀层测厚仪
德国EPK涂镀层测厚仪特点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
所有型号均可配所有探头;
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
可使用一片或二片标准箔校准。
| 品牌 | ElektroPhysik/德国EPK | 价格区间 | 1万-2万 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 化工,石油,航空航天,汽车及零部件,综合 |
德国EPK
德国ElektroPhysik(简称EPK)公司是一家专门生产测厚仪的专业公司,自1954年以来一直致力于测厚类产品的开发和研究工作,是世界上生产测厚类产品的公司之一。
半个多世纪以来,EPK公司作为测厚领域的公司,在这个领域取得很高的声誉,有着不可替代的地位。EPK产品包括:MikroTest麦考特系列机械型涂镀层测厚仪,MiniTest 70系列口袋式便携式涂镀层测厚仪,MiniTest 700系列创新型SIDSP涂镀层测厚仪,MiniTest 1100-2100-3100-4100系列/MiniTest 7400高精度涂镀层测厚仪,MiniTest 600系列电子型涂镀层测厚仪,QUINTSONIC超声波涂层测厚仪,GALVANOTEST库仑镀层测厚仪,MiniTest 7200/7400 FH壁厚测厚仪,MiniTest 400系列超声波测厚仪,CTM-S连续厚度测量系统,StratoTest 4100路面测厚仪,StratoTest 4100 C炉壁测厚仪,PoroTest 7涂层针孔检测仪等。
德国EPK涂镀层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100技术特征:
| 型号 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST 存储的数据量 | ||||
| 应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值) | 1 | 500 | ||
| 可用各自的日期和时间标识特性的组数 | 1 | |||
| 数据总量 | 10000 | 10000 | 10000 | |
| MINITEST统计计算功能 | ||||
| 读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar | √ | √ | √ | |
| 读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ | √ | ||
| 组统计值六种x,s,n,max,min,kvar | √ | √ | ||
| 组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ | √ | ||
| 存储显示每一个应用行下的所有组内数据 | √ | |||
| 分组打印以上显示和存储的数据和统计值 | √ | √ | ||
| 显示并打印测量值、打印的日期和时间 | √ | √ | √ | |
| 其他功能 | ||||
| 设置极限值 | √ | √ | ||
| 连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别Z大Z小值 | √ | √ | ||
| 连续测量模式中测量稳定后显示读数 | √ | √ | ||
| 连续测量模式中显示Z小值 | √ | √ | ||
德国EPK涂镀层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100可选探头参数:
所有探头都可配合任一主机使用。在选择Z适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的
形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
探头 |
量程 |
低端 |
误差 |
Z小曲率半径 |
Z小测量 |
Z小基 |
探头尺寸 |
|
磁 |
F05 |
0-500μm |
0.1μm |
±(1%±0.7μm) |
1/5mm |
3mm |
0.2mm |
φ15x62mm |
F1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
|
F1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/6mm | 5mm |
0.5mm |
φ8x8x170mm |
|
F2/90 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170mm |
|
F3 |
0-3000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
|
F10 |
0-10mm | 5μm |
±(1%±10μm) |
5/16mm |
20mm |
1mm |
φ25x46mm |
|
F20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±10μm) |
10/30mm |
40mm |
2mm |
φ40x66mm |
|
F50 |
0-50mm |
10μm |
±(3%±50μm) |
50/200mm |
300mm |
2mm |
φ45x70mm |
|
两 |
FN1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62mm |
FN1.6P |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
30mm |
F0.5mm/N50μm |
φ21x89mm |
|
FN2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62mm |
|
电 |
N02 |
0-200μm |
0.1μm |
±(1%±0.5μm) |
1/10mm |
2mm |
50μm |
φ16x70mm |
N.08Cr |
0-80μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
2.5mm |
2mm |
100μm |
φ15x62mm |
|
N1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
2mm |
50μm |
φ15x62mm |
|
N1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x13x170mm |
|
N2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
50μm |
φ15x62mm |
|
N2/90 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x13x170mm |
|
N10 |
0-10mm |
10μm |
±(1%±25μm) |
25/100mm |
50mm |
50μm |
φ60x50mm |
|
N20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±50μm) |
25/100mm |
70mm |
50μm |
φ65x75mm |
|
N100 |
0-100mm |
100μm |
±(1%±0.3mm) |
100mm/平面 |
200mm |
50μm |
φ126x155mm |
|
CN02 |
10-200μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
7mm |
无限制 |
φ17x80mm |
|
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。
德国EPK涂镀层测厚仪MiniTest 1100/2100/3100/4100探头
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FN1.6 0~1600μm,φ5mm 两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
![]() |
FN1.6P 0~1600μm,φ30mm 两用测头, 特别适合测粉末状的覆层厚度 |
![]() |
FN2 0~2000μm,φ5mm 两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层 |
![]() |
F05 0~500μm,φ3mm 磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等 量程低端分辨宰很高(O.1μm) |
![]() |
F1.6 0~1600μm,φ5mm 磁性测头 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
![]() |
F3 0~3000μm,φ5mm 磁性测头 可用于较厚的覆层 |
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F1.6/90 0~1600μm,φ5mm 90度磁性测头 尤其适合于在管内壁测量 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
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F2/90 0~2000μm,φ5mm 90度磁性测头 尤其适合于在管内壁测量 |
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F10 0~10mm,φ20mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层, 如玻璃、塑胶、混凝土等 |
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F20 0~20mm,φ40mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层, 如玻璃、塑胶、混凝土等 |
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F50 0~50mm,φ300mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层 |
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N02 0~200μm,φ2mm 非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
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N0.8Cr 0~80μm,φ2mm 适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层 |
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N1.6 0~1600μm,φ2mm 非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
![]() |
N2 0~2000μm,φ5mm 非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层 |
![]() |
N1.6/90 0~1600μm,φ5mm 磁性测头,适于测量较薄的绝缘覆层 尤其适合在管内壁测量 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
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N2/90 0~2000μm,φ5mm 磁性测头, 尤其适合在管内壁测量 |
![]() |
N10 0~10mm,φ50mm 非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等 |
![]() |
N20 0~20mm,φ70mm 非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等 |
![]() |
N100 0~100mm,200mm 非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等 |
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CN02 10~200μm,φ7mm 用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板 |
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