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德国EPK MINITEST720FN1.5涂层测厚仪

型号:

产品时间:2025-08-25

简要描述:

德国EPK MINITEST720FN1.5涂层测厚仪
什么是SIDSP?
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号*处理为数字形式。SIDSP探头*依据世界*技术生产。

详细介绍
品牌 ElektroPhysik/德国EPK 价格区间 1万-2万
产地类别 进口 应用领域 化工,石油,航空航天,汽车及零部件

德国EPK MINITEST720FN1.5涂层测厚仪

-创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精J确性

-测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用

-FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错


标准配置
带塑料手提箱,内含:
-MINITEST 720(内置探头)
--或MINITEST 730(外置探头)
--或MINITEST740主机(不含探头,有各种探头可选)
-校准套装含校准片和零板
-操作使用说明CD,德语、英语、法语、西班牙语
-2节AA电池

推荐配件:
-F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架

技术数据表
SIDSP探头


探头
特性
F1.5,N0.7,FN1.5 F2 F5,N2.5,FN5 F15
F N F F N F
测量范围 0-1.5mm 0-0.7mm 0-2mm 0-5mm 0-2.5mm 0-15mm
使用范围 小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用 粗糙表面 标准探头,使用广泛 厚涂层
测量原理 磁感应 电涡流 磁感应 磁感应 电涡流 磁感应
信号处理 探头内部32位信号处理(SIDSP)
精J确度 ±(1μm+0.75%读值) ±(1.5μm+0.75%读值) ±(5μm+0.75%读值)
重复性 ±(0.5μm+0.5%读值) ±(0.8μm+0.5%读值) ±(2.5μm+0.5%读值)
低端分辨率 0.05μm 0.1μm 1μm
Z小曲率半径(凸) 1.0mm 1.5mm 5mm
Z小曲率半径(凹,外置探头) 7.5mm 10mm 25mm
Z小曲率半径(凹,内置探头) 30mm 30mm 30mm
Z小测量面积 Φ5mm Φ10mm Φ25mm
Z小基体厚度 0.3mm 40μm 0.5mm 0.5mm 40μm 1mm
连续模式下测量速度 每秒20个读数
单值模式下Z大测量速度 每分钟70个读数

主机


型号
特性
MINITEST 720 MINITEST 730 MINITEST 740
探头类型 内置 外置 内置外置可换
数据记忆组数 10 10 100
存储数据量 Z多10,000个 Z多10,000个 Z多100,000个
统计值 读值个数,Z小值,Z大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)
校准程序符合标准和规范 ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准
校准模式 出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值
极限值监控 声、光报警提示超过极限
测量单位 um,mm,cm;mils,inch,thou
操作温度 -10℃-60℃
存放温度 -20℃-70℃
数据接口 IrDA 1.0(红外接口)
电源 2节AA电池
标准 DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2
体积 157mm x 75.5mm x 49mm
重量 约175g 约210g 约175g(内置)/230g(外置)


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